私たちはBelle II およびSuperKEKB 実験のための新しいシリコン崩壊点検出器（SVD）の開発・製作を行っています。ルミノシティーが上がるため、SVDには新たなデザインと性能の向上が必要とされます。私は、新しいSVDの飛跡検出器としての良好な品質を保証するための電気的性能保証（EQA）を担当しています。まず、電子回路と読み出し用チップの接続をチェックするため、電気的な機能を調べます。次に雑音レベル、信号対雑音比、時間分解能、不感時間等のSVDモジュールの性能一式を測定します。SVD製作チームは、私からのフィードバックをSVDモジュールの性能向上に役立てます。このような方法によりBelle II 実験のために最高の性能を有するSVDの製作が可能となっています。